1.局所構造解析

①UHV-SPM

固体表面を原子・分子スケールで画像化し，個々の分子の性質を調べる顕微鏡

②電気化学 FM-AFM
（初号機）

電気化学反応が起こる電極界面の固体側だけでなく，溶液側の局所構造情報を得るために開発した顕微鏡の初号機

③電気化学 FM-AFM
（2号機）

初号機の経験を元にした界面局所構造顕微鏡。真空下での測定にも対応

④電気化学STM

電気化学反応が起こる電極界面の固体側の局所構造・電子状態解析を行う顕微鏡

2.電子状態解析

　

⑤光電子顕微鏡
(PEEM)(改造中)

真空紫外線を励起源とした光電子を用いて界面の電子状態解析を行う顕微鏡を備えた装置

⑥光電子分光装置（PES)

X線や真空紫外線を励起源として、表面の元素組成・化学状態を解析する装置(学内共用装置）我々が開発したattachmentにより、電気化学反応が起こる界面近傍の電子状態解析が可能

⑦オージェ電子分光装置(scanning AES)

表面の元素組成・化学状態を解析する装置

⑧角度可変ATR-FUV分光装置

波長200 nm以下の遠紫外域(FUV)を含んだ測定波長域140-450 nmのATR型分光装置
角度可変機構や温度制御ユニットを装備

⑨電気化学ATR-FUV分光装置

電気化学環境下での電子励起スペクトル測定にも対応

　　　　

3.振動分光

　

⑩反射吸収赤外分光装置
(RAIRS)_1

触媒表面に吸着した反応分子の振動スペクトルを測定する装置

⑪反射吸収赤外分光装置
(RAIRS)_2

触媒表面に吸着した反応分子の振動スペクトルを測定する装置。常圧近くまでの反応に対応可能

⑫内部反射型赤外分光装置(ATR-IR)

電解質溶液と接する電極界面に吸着する分子の振動スペクトルを測定する装置

4.試料調整（設備の一部）

　

⑬グローブボックス

不活性なガス雰囲気の中で試料調製を行う装置．調製した試料は⑤，⑥の装置まで大気に晒さずに運べる

⑭金基板作製装置

マイカ基板にAuを蒸着して(111)薄膜を作製する専用機

⑮蒸着装置

Au以外の金属や有機物の蒸着装置

　　　　　　

⑯スパッタ薄膜作製装置

酸化物光触媒薄膜などの調製を行う装置

　　　　　　

⑰ドラフト（3台）

表面の化学処理、自己組織化単分子膜の調製、前駆体分子の脱保護、電気化学用具の酸洗浄等の処理を行う

　　　　　

5.電気化学・光化学（設備の一部）

　

⑱インピーダンス測定
システム

電気化学界面のインピーダンス測定等を行うシステム

⑲光電極触媒の評価装置

光触媒作用をもつ酸化物電極の紫外光照射時の活性評価を行う

⑳光触媒からの
発光検出システム

光触媒で励起子の再結合で生じる発光(脱励起)により活性評価を行う

　　　　　

　　　　　

6.その他

　

㉑紫外可視吸収測定装置
(UV-Viz)

紫外・可視領域の吸収を測定．分子，クラスターの同定等に用いる

㉒示唆熱分析装置

温度変化に対する試料への熱の出入りを測定・解析する装置

㉓昇温脱離装置

試料表面を昇温しながら脱離してくる分子を解析

　　　　　　

㉔蛍光顕微鏡

蛍光を発する標識分子の動きの観察から薄膜形成過程を解析する顕微鏡

　　　　　

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